光學(xué)軸類測(cè)量儀（如基于光學(xué)原理的影像測(cè)量儀、激光掃描儀或條紋投影系統(tǒng)等）在軸類零件的螺紋測(cè)量和幾何公差測(cè)量方面，相比傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法（如三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)CMM、螺紋規(guī)、千分尺等），具有顯著的優(yōu)勢(shì)，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

一、 螺紋測(cè)量的優(yōu)勢(shì)

1. 非接觸測(cè)量，無損高效：

• 避免劃傷和變形： 光學(xué)測(cè)量無需物理接觸被測(cè)螺紋表面，消除了探針劃傷精密螺紋牙型（尤其是軟材料或精密表面處理件）或微小變形的風(fēng)險(xiǎn)，保證了零件的完整性。

• 大幅提升效率： 無需反復(fù)定位、接觸、采點(diǎn)，光學(xué)系統(tǒng)可以在一次掃描或拍照中快速獲取整個(gè)螺紋區(qū)域的大量點(diǎn)云或圖像數(shù)據(jù)。對(duì)于批量檢測(cè)，效率提升尤為顯著。

2. 獲取完整三維形貌信息：

• 大徑、中徑、小徑

• 螺距

• 牙型角（半角）

• 牙高/牙深

• 螺紋錐度（對(duì)于錐螺紋）

• 牙型輪廓偏差（與標(biāo)準(zhǔn)牙型比較）

• 螺紋收尾/起始形態(tài)

• 超越單一參數(shù)： 傳統(tǒng)螺紋規(guī)、螺紋千分尺主要測(cè)量中徑等單一參數(shù)。光學(xué)測(cè)量能重建螺紋牙型的完整三維輪廓。

• 全面參數(shù)測(cè)量： 基于完整輪廓，可以高精度計(jì)算所有關(guān)鍵螺紋參數(shù)：

3. 高精度和可重復(fù)性：

• 現(xiàn)代光學(xué)系統(tǒng)（特別是白光共焦、激光干涉、高精度條紋投影）可以達(dá)到微米甚至亞微米級(jí)的測(cè)量精度，滿足大多數(shù)精密螺紋的檢測(cè)要求。

• 非接觸測(cè)量消除了人為接觸力差異帶來的誤差，測(cè)量結(jié)果具有優(yōu)異的重復(fù)性和再現(xiàn)性。

4. 適合復(fù)雜和微小螺紋：

• 對(duì)于小螺距、小直徑的微型螺紋，傳統(tǒng)接觸式探針可能難以精確接觸牙型底部或側(cè)面。光學(xué)方法（尤其是高倍率顯微光學(xué)）可以清晰地成像和測(cè)量這些微小特征。

• 對(duì)于薄壁件或易變形件，非接觸性是可靠的選擇。

5. 直觀可視化和缺陷檢測(cè)：

• 可以直接在軟件中觀察螺紋的三維模型、截面輪廓圖，非常直觀。

• 更容易識(shí)別螺紋表面的缺陷，如毛刺、磕碰、磨損、牙型畸變等。

二、 幾何公差測(cè)量的優(yōu)勢(shì)

1. 快速獲取海量點(diǎn)云數(shù)據(jù)：

• 光學(xué)掃描可以在極短時(shí)間內(nèi)獲取軸類零件表面的數(shù)十萬甚至數(shù)百萬個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，形成密集的點(diǎn)云。

• 相比CMM的逐點(diǎn)接觸測(cè)量，速度有數(shù)量級(jí)的提升，特別適合全尺寸檢測(cè)和復(fù)雜輪廓測(cè)量。

2. 完整表征形狀和輪廓：

• 圓度/圓柱度： 基于整個(gè)圓周或圓柱面上密集的點(diǎn)，最小二乘法擬合或最小區(qū)域法計(jì)算更精確，更能反映真實(shí)形狀誤差。

• 直線度： 沿軸線方向密集采樣，準(zhǔn)確評(píng)估直線度偏差。

• 同軸度/同心度： 精確測(cè)量多個(gè)截面的圓心位置，評(píng)估其相對(duì)于基準(zhǔn)軸線的偏差。

• 跳動(dòng)（徑向/端面）： 在旋轉(zhuǎn)掃描中，能連續(xù)獲取整個(gè)圓周相對(duì)于基準(zhǔn)的偏差。

• 輪廓度： 無論是線輪廓度還是面輪廓度，高密度點(diǎn)云與理論CAD模型進(jìn)行比對(duì)，是最直接有效的方法。

• 高密度點(diǎn)云使得計(jì)算各種幾何公差（尤其是形狀和位置公差）更加準(zhǔn)確和可靠：

3. 一次裝夾，全面測(cè)量：

• 軸類零件通常需要測(cè)量多個(gè)直徑、長度、臺(tái)階、倒角、圓角以及各種幾何公差。

• 光學(xué)系統(tǒng)（尤其是帶有轉(zhuǎn)臺(tái)或可編程運(yùn)動(dòng)軸的）可以在一次裝夾中，通過掃描或不同角度的影像測(cè)量，完成零件上幾乎所有外部特征的尺寸和幾何公差測(cè)量，極大提升效率，減少裝夾誤差。

4. 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生成能力：

• 自動(dòng)對(duì)齊點(diǎn)云與CAD模型（基于基準(zhǔn)或最佳擬合）。

• 自動(dòng)計(jì)算各種GD&T參數(shù)。

• 生成直觀的彩色偏差云圖（色譜圖），清晰顯示超差區(qū)域。

• 自動(dòng)生成包含詳細(xì)數(shù)據(jù)和圖表的檢測(cè)報(bào)告（PDF, Excel等）。

• 配套軟件通常功能強(qiáng)大，能：

5. 適合柔性生產(chǎn)和復(fù)雜工件：

• 程序化測(cè)量：測(cè)量程序可以保存和快速調(diào)用，適應(yīng)不同型號(hào)軸類零件的快速切換檢測(cè)。

• 復(fù)雜曲面測(cè)量：對(duì)于帶有非圓截面、復(fù)雜曲面（如凸輪軸）或自由曲面的軸類零件，光學(xué)掃描是獲取其完整形狀并進(jìn)行輪廓度評(píng)價(jià)的有效方法。

總結(jié)關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)對(duì)比表

需要注意的局限性

• 表面要求： 光學(xué)測(cè)量對(duì)被測(cè)表面反光特性（太亮、太暗、透明、鏡面）敏感，可能需要噴顯影劑處理，增加了步驟。

• 深孔/盲區(qū)： 對(duì)于軸類零件內(nèi)部深孔、內(nèi)螺紋或被遮擋區(qū)域，光學(xué)方法可能難以測(cè)量，仍需接觸式探針或內(nèi)窺鏡等輔助。

• 環(huán)境要求： 高精度光學(xué)測(cè)量可能需要穩(wěn)定的溫度、振動(dòng)控制環(huán)境。

• 設(shè)備成本： 高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)初始投入成本可能較高。

結(jié)論

對(duì)于軸類零件的螺紋測(cè)量和幾何公差（尤其是形狀公差和輪廓度）測(cè)量，光學(xué)軸類測(cè)量儀憑借其非接觸、高速、高精度、獲取完整三維信息、可視化強(qiáng)、自動(dòng)化程度高等核心優(yōu)勢(shì)，已經(jīng)成為現(xiàn)代制造業(yè)，特別是在追求高效率、高精度、全尺寸檢測(cè)和質(zhì)量控制嚴(yán)格的應(yīng)用場(chǎng)景（如汽車、航空航天、精密儀器、醫(yī)療器械等）中的測(cè)量方案。它極大地克服了傳統(tǒng)接觸式測(cè)量的局限，顯著提升了檢測(cè)效率、數(shù)據(jù)完整性和可靠性。在選擇時(shí)，需根據(jù)具體的工件特性（尺寸、材料、表面狀況、精度要求）和測(cè)量需求（側(cè)重螺紋還是幾何公差，是否需要內(nèi)徑測(cè)量）來匹配合適的光學(xué)測(cè)量技術(shù)（影像測(cè)量、激光掃描、條紋投影等）。

瑞士丹青Sylvac系列S25，S60，S145光學(xué)軸類掃描儀，多型號(hào)，集光、機(jī)、電子和計(jì)算機(jī)為一體的非接觸精密測(cè)量系統(tǒng)，專門為回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測(cè)提供全面的測(cè)量方案。直徑從26mm到145mm，長度從200到1750mm范圍內(nèi)的回轉(zhuǎn)體軸類零件的檢測(cè)均可輕松完成！偏擺系統(tǒng)可更全面的測(cè)量，本系統(tǒng)配置了高集成度CMOS線性光電傳感器陣列，每個(gè)CMOS陣列由數(shù)千個(gè)光敏像素組成。全新的攝像頭和鏡頭為您提供快速高品質(zhì)圖像處理，從而實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)測(cè)量。當(dāng)工件被平行光照射，其影像投影在CMOS陣列上時(shí)，光敏象素能細(xì)微的檢測(cè)到工件影像的邊緣變化并以電信號(hào)形式輸出，再通過細(xì)分內(nèi)插的機(jī)理，這種邊緣變化的識(shí)別可達(dá)到小于一個(gè)光敏象素的水平。從而可以完成幾何尺寸和形狀公差的精確分析和測(cè)量，也可以根據(jù)需求加配測(cè)針對(duì)工件進(jìn)行接觸式測(cè)量